Patent

Způsob kontinuálního měření vlhkosti jemných sypkých materiálů na bázi vyhodnocení spektra infračerveného záření odraženého od povrchu materiálu postupujícího kolem spektrálního čidla spočívá v tom, že v proudu (3) materiálu vedeného v horizontální rovině konstantní rychlostí (v) 0,1 až 1 m/s se nastavuje konstantní výška (H) vrstvy alespoň 5 mm a její povrch se tlakem (p) alespoň 5 Pa zhutňuje a vyrovnává, takto upravený materiál postupuje prostorem odstíněným od elektromagnetického vlnění i světelného a tepleného záření do zorného pole infračerveného spektrometru (8) pracujícího v oblasti vlnočtu 12900 až 4000 cm-1, spektrometru (9) snímajícího barevnost ve viditelné části spektra a spektrometru (10) snímajícího povrchovou teplotu materiálu, přičemž kalibrované a validované spektrum snímané infračerveným spektrometrem (8) se na počítači (11) koriguje kalibrovaným spektrem od spektrometru (9) snímajícího barevnost a údaji od spektrometru (10) snímajícího teplotu. Zařízení pro uvedený způsob měření je tvořeno rovinným pohyblivým pásem (1) nesoucím proud (3) sypkého materiálu, do nějž zasahuje nastavitelné hrablo (4) k udržování konstantní výšky (H) vrstvy materiálu, na níž přiléhá hladký zhutňovací válec (5), zatížený nastavitelným silovým prvkem (6), přičemž za zhutňovacím válcem (5) jsou v toku materiálu nad jeho vrstvou v odstupu od této vrstvy shodném s jejich ohniskovými vzdálenostmi umístěny infračervený spektrometr (8), spektrometr (9) snímající barevnost v oblasti viditelného světla a spektrometr (10) snímající povrchovou teplotu materiálu napojené na počítač (11) vybavený vyhodnocovacím a korekčním softwarem, přičemž materiál na dráze od hrabla (4) je odstíněn od elektromagnetického vlnění i od světelného a tepelného záření.

kontinuální měření, vlhkost jemný sypký materiál

305570

04.11.2015

03.11.2025

Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ

http://isdv.upv.cz/portal/pls/portal/portlets.pts.det?xprim=1986876&lan=cs&s_majs=&s_puvo=Raudenský&s_naze=&s_anot=