Course detail

Teorie měření, měřicí techniky a technické diagnostiky

ÚSI-DSNB08Acad. year: 2023/2024

Not applicable.

Language of instruction

Czech

Mode of study

Not applicable.

Entry knowledge

Not applicable.

Rules for evaluation and completion of the course

Not applicable.

Aims

Not applicable.

Study aids

Not applicable.

Prerequisites and corequisites

Not applicable.

Basic literature

DOEBELIN, O.D. Measurement Systems. Application and Design. New York: McGraw-Hill, 1990.
JENČÍK, J., KUHN, L. a kol. Technická měření ve strojírenství. Praha: SNTL, 1982.
Normy: Mezinárodní slovník základních a všeobecných termínů v metrologii.. ČSN 01 0115
Normy: Vyjadřování nejistoty při měření.

Recommended reading

HALLIDAY, D., RESNICK, R., WALKER, J. Fyzika. VUTIUM, 2014.
SERWAY, R.A., BEICHNER, R.J. Physics for Scientist and Engineers with Modern Physics. 5. vydání. Orlando: Saunders College Publisching, 2000. 1551 s.

Elearning

Classification of course in study plans

  • Programme DSP SoI_K Doctoral 1 year of study, summer semester, compulsory-optional
  • Programme DSP SoI_P Doctoral 1 year of study, summer semester, compulsory-optional

Type of course unit

 

Lecture

12 hod., optionally

Teacher / Lecturer

Syllabus

1. Metrologie a její fyzikální základ.
2. Základní a odvozené jednotky.
3. Měřené signály a jejich charakteristiky: obecné vlastnosti signálů a jejich parametrů, náhodné signály a jejich charakteristiky, signály zatížené chybami.
4. Transformace signálů: obecné pojmy transformace signálů, kvantování signálů, diskretizace signálů.
5. Analýza přesnosti měření.
6. Klasifikace chyb měření: náhodné chyby, systematické chyby; metody snížení systematické složky chyby měření, nejistota měření.
7. Metody zpracování výsledků přímých měření. Metody zpracování výsledků nepřímých měření.
8. Základní charakteristiky měřicích prostředků. Analogové a digitální přístroje.
9. Senzory: základní typy senzorů a fyzikální principy jejich činnosti.
10. Metody zvyšování přesnosti měřicích přístrojů.
11. Diagnostické metody (výběr). Ultrazvukové metody. Rentgenové metody. Radiační metody. Tomografie.
12. Pokročilé metody zobrazování v defektoskopii: elektronová mikroskopie, rastrovací sondové mikroskopie.
13. Rekapitulace základních pojmů.

Guided consultation in combined form of studies

6 hod., optionally

Teacher / Lecturer

Guided consultation

12 hod., optionally

Teacher / Lecturer

Elearning