Detail publikace

Noise and transport characterisation of tantalum capacitors

PAVELKA, J. ŠIKULA, J. VAŠINA, P. SEDLÁKOVÁ, V. TACANO, M. HASHIGUCHI, S.

Originální název

Noise and transport characterisation of tantalum capacitors

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Noise and transport characterisation of tantalum capacitors

Klíčová slova

noise, reliability, tantalum capacitors

Autoři

PAVELKA, J.; ŠIKULA, J.; VAŠINA, P.; SEDLÁKOVÁ, V.; TACANO, M.; HASHIGUCHI, S.

Vydáno

1. 1. 2002

ISSN

0026-2714

Periodikum

Microelectronics Reliability

Ročník

42

Číslo

6

Stát

Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Strany od

841

Strany do

847

Strany počet

7

BibTex

@article{BUT43782,
  author="Jan {Pavelka} and Josef {Šikula} and Petr {Vašina} and Vlasta {Sedláková} and Munecazu {Tacano} and Sumihisa {Hashiguchi}",
  title="Noise and transport characterisation of tantalum capacitors",
  journal="Microelectronics Reliability",
  year="2002",
  volume="42",
  number="6",
  pages="7",
  issn="0026-2714"
}