Detail publikace

Nedestruktivní diagnostika polovodičových PN přechodů pomocí impulzního šumu

KOKTAVÝ, P., KOKTAVÝ, B.

Originální název

Nedestruktivní diagnostika polovodičových PN přechodů pomocí impulzního šumu

Anglický název

Non-destructive Diagnostics of Semiconductor pn Junction by means of Impulse Noise

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

V předložené práci je diskutována možnost využití impulzního šumu pro nedestruktivní diagnostiku polovodičových součástek s PN přechody. Ukazuje se, že tato metoda je vhodná pro hodnocení kvality PN přechodu.

Anglický abstrakt

Presented paper discuss the possibility of using of the impulse noise for non-destructive diagnostics of semiconductor devices with PN junctions.

Klíčová slova

PN junction, microplasma noise, local avalanche breakdowns

Autoři

KOKTAVÝ, P., KOKTAVÝ, B.

Rok RIV

2004

Vydáno

1. 1. 2004

Nakladatel

Brno University of Technology

Místo

Brno

ISBN

80-7204-371-4

Kniha

Workshop NDT 2004

Strany od

84

Strany do

89

Strany počet

6

BibTex

@inproceedings{BUT12164,
  author="Pavel {Koktavý} and Bohumil {Koktavý}",
  title="Nedestruktivní diagnostika polovodičových PN přechodů pomocí impulzního šumu",
  booktitle="Workshop NDT 2004",
  year="2004",
  pages="6",
  publisher="Brno University of Technology",
  address="Brno",
  isbn="80-7204-371-4"
}