Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
CHOBOLA, Z.
Originální název
Noise as a tool for non-destructive testing of signle-crystal silicon solar cells
Anglický název
Druh
Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus
Originální abstrakt
Transport and noise characteristics of forward and reverse biased single-crystal silicon solar cellswere measured in order to evaluiate the solar cell technology.
Anglický abstrakt
Klíčová slova v angličtině
Noise, non-destructive testing
Autoři
Vydáno
21.08.2001
ISSN
0026-2692
Periodikum
MICROELECTRONICS JOURNAL
Svazek
2001
Číslo
8
Stát
Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Strany od
1947
Strany počet
6
BibTex
@article{BUT40584, author="Zdeněk {Chobola}", title="Noise as a tool for non-destructive testing of signle-crystal silicon solar cells", journal="MICROELECTRONICS JOURNAL", year="2001", volume="2001", number="8", pages="6", issn="0026-2692" }