Detail publikačního výsledku

Noise Spectral Density and Reliability of Tantalum Capacitors

ŠIKULA, J., KOKTAVÝ, B., HRUŠKA, P., VAŠINA, P., KOKTAVÝ, P., HÁJEK, K.

Originální název

Noise Spectral Density and Reliability of Tantalum Capacitors

Anglický název

Noise Spectral Density and Reliability of Tantalum Capacitors

Druh

Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus

Originální abstrakt

Noise Spectral Density and Reliability of Tantalum Capacitors

Anglický abstrakt

Noise Spectral Density and Reliability of Tantalum Capacitors

Klíčová slova v angličtině

tantalum capacitor, reliability, noise

Autoři

ŠIKULA, J., KOKTAVÝ, B., HRUŠKA, P., VAŠINA, P., KOKTAVÝ, P., HÁJEK, K.

Vydáno

24.03.1997

Místo

Florida, USA

Kniha

17th Capacitor and Resistor Technology Symposium CARTS’97

Strany od

298

Strany počet

6

BibTex

@inproceedings{BUT16648,
  author="Josef {Šikula} and Bohumil {Koktavý} and Pavel {Hruška} and Pavel {Vašina} and Pavel {Koktavý} and Karel {Hájek}",
  title="Noise Spectral Density and Reliability of Tantalum Capacitors",
  booktitle="17th Capacitor and Resistor Technology Symposium CARTS’97",
  year="1997",
  pages="6",
  address="Florida, USA"
}