Diplomová práce pana Michala Horkého se zabývá možností přípravy metastabilních vrstev fcc Fe na křemíkových substrátech a rovněž možností přípravy litografických struktur z těchto vrstev. Během práce na diplomovém projektu odvedl pan Horký obrovské množství práce a dosáhl vynikajících výsledků, s velkým aplikačním potenciálem, které budou dále využity v navazujícím výzkumu. S potěšením konstatuji, že všechny cíle diplomové práce byly splněny, diplomovou práci doporučuji k obhajobě a hodnotím ji stupněm A.

Práce je velmi rozsáhlá, první dojem je značný, ale podrobná četba ukáže, že práce byla napsána rychle a bez předchozího plánu. Je dodrženo jen formální schema a trpí značnými nedostatky. V prvé řadě působí jako placený reklamní leták firem, které produkují různá deposiční a analyzační techniky. Předkladatel neustále opakuje jméno firem a kde se různá zařízení nacházejí, zda v TU Wien nebo CEJTEK Brno. Jsou ukazovány zbytečně schémata téhož napařovadla a opakovány použité principy deposice. To vše je na úkor srozumitelnosti předložené práce a na úkor interpretace výsledků. Popisky nejsou o fyzice, na kterou by se mela práce predevším soustředit. Rozsáhlost prvních dvou třetin práce je na úkor poslední, kde je interpretace výsledků, právě fyzika a chemie. Nebudeme rozebírat chybně použité termíny jako Augerovská, ellipticita, difuzivita, flash, flesh nebo flush a jejich české variace, opět je to na úkor srozumitelnosti textu. V rešerši ale výrazně chybí fázové diagramy např. Cu-Si místo sáhodlouhého opisování, podobně i pro další předpokládané sloučeniny a slitiny. Pokud to shrnu, práce o rozsahu 50ti stran a více zaměřená na fyziku a ne na běžně používané postupy hydrogenace Si nebo jeho čištění mokrou či suchou cestou je naprosto zbytečné, protože jsou známy již od 60tých let minulého století. Na druhé straně mi chybí lepší rozbor XPS dat. Přesto předložená práce ukázala schopnost pana bakaláře improvizovat a umět si poradit i v případě nedostatečné techniky nebo poruchy přístroje. Chápu, že na tento výkon je pyšný, ale, bohužel, je to běžné v experimentální fyzice. Přes nedostatky v prezentaci je zřejmé, že práce je logická i smysluplná-najít levnější a průmyslově přijatelný substrát, ukázat jeho klady i nedostatky a cestu jak ho vylepšit. Podle mého názoru se jedná o velmi dobrou práci, která je trochu nešťastně, spíše nezkušeně prezentována. Čeština není běžný jazyk pro psaní vědeckých prací a obecně by bylo lepší, kdyby i diplomové práce byly psány v angličtině. Shrneme-li obsah předložené przentace, nejedná se o originální práci, ale o dobrou profesionální, která byla zvládnuta přes značné experimentální potíže v plném plánovaném rozsahu. Otázky k obhajobě:

1. 1) Jakým způsobem byla měřena teplota ve všech případech, zejména FeNi vrstvy na Cu-SiH substrátu, chyba měření.
2. 2) Co je to invertovaný LEED. Samo slovo mi není jasné, Používá se inversní LEED kde na difrakční obrazec se použije FFT transformace, aby byla získána představa o rozložení atomů v reálném prostoru, to Vase obrázky nepřipomínají.
3. 3 ) Poprvé použito na str.36 “vyleptaný Si”, nemám představu co to znamená.
4. 4) Co to znamená globální a selektivní deposice?
5. 5) XPS spektra jsou prezentována bez rozkladu na jednotlivé příspěvky, které jsou v dalším textu diskutovány. Prosím ukažte diskutované příspěvky získané rozkladem.
6. 6) V této souvislosti nerozumím absolutně věte: Pro popis experimentu nebyla data záměrně extrapolována z důvodů tvorby zdánlivých píků v naměřeném spektru.
7. 7) Obr 5.11.a. kde je (1×1) zobrazena pouze pro porovnání, neboť se u flešovaného Si nevyskytuje. Nerozumím, protoze 1x1 difrakční body jsou vždy přítomny v jakékoli rekonstrukci a po jakékoli úpravě.