Cílem bakalářské práce bylo zvládnout selektivní růst Au na matrici připravené pomocí LAO na povrchu Si/SiO2 a pomocí AFM/SKPM charakterizovat vlastnosti matrice a nanesených struktur. Tohoto cíle se podařilo úspěšně dosáhnout. Navíc byly provedeny další užitečná komparativní měření: SKPM na povrchu modifikovaném metodou FIB nebo na LAO nanotečkách. Martin Konečný začal na uvedené problematice pracovat přibližně v listopadu minulého roku a od té doby dosáhl značných pokroků a stal se v praktickém smyslu odborníkem na metodu SKPM. Jako vedoucí bakalářské práce oceňuji především samostatný a zodpovědný přístup k řešení problémů.

Bakalářská práce popisuje přípravu matric pro selektivní růst pomocí AFM nanolitografií. V úvodu první kapitole je stručně popsána mikroskopie atomárních sil (AFM). Autor se zabývá interakcí hrotu s povrchem a popisuje jednotlivé metody a uspořádání měření  AFM. Logické řazení odstavců pěkným způsobem uvozuje problematiku mikroskopie atomárních sil. Literatura v prací je náhodně řazená. Autor zásadně nepředpokládá, že vzorec v textu je také věta a je nutno i zde dbát pravidel interpunkcí. Práci silným způsobem uškodily naskenované obrázky. Navíc některé obrázky jsou opatřeny anglickým popisem Obr.5.
Druhá kapitola práce je věnována AFM nanolitografiím a popisu uspřádaní prováděných experimentů. Autor zde prezentuje a diskutuje výsledky tvorby uspořádaných struktur vytvořených pomocí LAO. U obrázku 10 b)  chybí pro lepší přehlednost profil vzniklých děr na povrchu po procesu leptání. V textu by se měl student lépe odkazovat na jednotlivé obrázky a to i na jednotlivé pod části obrázku, především když jsou označeny písmeny.
Kapitole 3 je věnována Kelvinově silové mikroskopii (KFM), která v textu jednoduše a přehledně popsána. Jsou zde také prezentovány výsledky měřené metodou KFM, které jsou velmi precizně zpracovány.  Na str. 23 je špatně odkazováno na obrázek 14 b). V grafu 7 nesedí jednotky u osy x.
Kapitola 4. je věnována selektivnímu růstu Au na připravené matrice pomocí ALO a také pomoci metody FIB. Na straně 26 je zavádějícím způsobem definovaná difuzní délka. V obrázku 16 b) by bylo u popisu konvoluce místo nepravidelnost tvaru vhodnější použít pravidelnost.
I přes drobné nesrovnalosti, především ve formálním zpracovaní, hodnotím práci za nadprůměrnou a zdařilou. Student musel řešit množství složitých problémů spojených se samotným měřením a přípravou nanostruktur. Experimentální část práce je velmi rozsáhlá a nadprůměrná. Velmi pozitivně hodnotím experimentální výsledky celé práce. Student splnil všechny úkoly zadání. Z těchto důvodů doporučuji bakalářskou práci k obhajobě a pokud student odpoví na doplňující dotazy, navrhuji hodnocení stupněm B. Otázky k obhajobě:

1. Je možno lépe definovat difuzní délku na povrchu substrátu? Jaké hlavní veličiny ji mohou ovlivnit?
2. Jak se realizuje měření bezkontaktního módu v amplitudovém a frekvenčním režimu, které jsou popsány na straně 12. Jaký režim je používán na Ústavu fyzikálního inženýrství v Brně?