Detail předmětu

Teorie měření, měřicí techniky a technické diagnostiky

FSI-9TTDAk. rok: 2021/2022

Obsahem kurzu je seznámení účastníků s pokročilými metodami a prostředky měření s nanometrovým rozlišením.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

0

Garant předmětu

doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D.

Zajišťuje ústav

Ústav fyzikálního inženýrství (ÚFI)

Výsledky učení předmětu

Pochopení vybraných fyzikálních jevů z hlediska jejich použití jako podstaty měřicích metod, senzorů a funkce meřicích zařízení.

Prerekvizity

Úspěšné studium vyžaduje znalosti a dovednosti, které odpovídají předmětům Fyzika I, Fyzika II a Metrologická fyzika.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Předmět je vyučován formou přednášek, které mají charakter výkladu základních principů a teorie dané disciplíny.

Způsob a kritéria hodnocení

Zkouška skládající se z ústní a písemné části.

Učební cíle

Vyložit fyzikální principy vybraných měřicích metod a činnosti meřicích přístrojů a zařízení.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Účast na všech prvcích výuky.

Základní literatura

DOEBELIN, O.D.: Measurement Systems. Application and Design.. New York: McGraw-Hill, 1990. (EN)
ORNATSKIJ, P.P.: Teoretičeskije osnovy informacionno-izměritělnoj techniki. Kijev: Vyšča škola, 1976.
Normy: Mezinárodní slovník základních a všeobecných termínů v metrologii.. ČSN 01 0115
BOX, G.E.P., HUNTER, W.G., HUNTER, J.S. Statistics for Experiments-an Introduction to Design, Data Analysis and Model Building, Wiley 1978 (EN)
RIPKA, P.; TIPEK, A. Master Book of Sensors, part A, part B, Czech Technical University, 2003 (EN)
WIESENDAGER. R., GUNTHERODT. J.H.: Scanning Tuneling Microscopy II, Springer 1995 (EN)
REIMER, L, Scanning Electron Microscopy (2nd ed.), Springer,1998 (EN)
WILIAMS, D. B., CARTER, C. B. Transmission Electron Microscopy (2nd ed.), Springer, 2009 (EN)

Doporučená literatura

DOEBELIN, O.D.: Measurement Systems. Application and Design.. New York: McGraw-Hill, 1990. (EN)
Normy: Vyjadřování nejistoty při měření.
JENČÍK, J., KUHN, L. a další: Technická měření ve strojírenství.. Praha: SNTL, 1982.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program D-APM-K doktorský, 1. ročník, zimní semestr, doporučený
  • Program D-APM-P doktorský, 1. ročník, zimní semestr, doporučený

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

20 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D.

Osnova

Obecné pojmy a teorie. Statistika měření a zpracování chyb: rozdělení náhodných veličin: normální rozdělení, rovnoměrné rozdělení. Zákon přenosu chyb. Zpracování výsledků přímých a nepřímých měření.

Senzory: senzory obecná klasifikace. Kapacitní senzory. Indukční a indukčnostní senzory.

Diagnosticko-zobrazovací techniky: rastrovací elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, rastrovací tunelová mikroskopie.