Detail předmětu

Speciální praktikum I

FSI-TSAk. rok: 2018/2019

Praktikum obsahuje náročné experimentální úkoly, které vyžadují komplexní přípravu studenta k řešení zadaného tématu. Úlohy zahrnují oblast vakuové fyziky a techniky, světelné optiky, iontové a elektronové optiky, fyzikálních technologií a měření vlastností a analýzy materiálů.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

3

Garant předmětu

prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc.

Zajišťuje ústav

Ústav fyzikálního inženýrství (ÚFI)

Výsledky učení předmětu

Schopnost samostatně experimentovat se znalostí teoretických základů problému.

Prerekvizity

Atomová fyzika, fyzika pevných látek, kvantová fyzika, statistická fyzika a termodynamika, vakuová fyzika a technologie, geometrická a vlnová optika.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Výuka je tvořena laboratorním cvičením.

Způsob a kritéria hodnocení

Hodnocení bude provedeno na základě předložrných protokolů s měřením a následné diskuse získaných výsledků. Účast povinná, v případě závažných důvodů lze některá z měření po individuální domluvě nahradit.

Učební cíle

Studenti nabudou praktickou zběhlost při experimentální činnosti, získávání a zpracování výsledků a jejich následné analýze a interpretaci.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Přítomnost na cvičení je povinná a je sledována vyučujícím. Způsob nahrazení zmeškané výuky ve cvičení bude stanovena vyučujícím na základě rozsahu a obsahu zmeškané výuky.

Základní literatura

ECKERTOVÁ, L.: Diagnostics of Thin Films
BROŽ, J.: Základy fyzikálních měření

Doporučená literatura

Autoři jednotlivých úloh: sylaby k jednotlivým úlohám

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program B3A-P bakalářský

    obor B-FIN , 3. ročník, letní semestr, povinný

Typ (způsob) výuky

 

Laboratoře a ateliéry

39 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Ing. Lukáš Kachtík, Ph.D.
Ing. Martin Konečný, Ph.D.
Ing. Jaroslav Maniš, Ph.D.

Osnova

Úloha 1. Rastrovací elektronová mikroskopie
Úloha 2. Rastrovací tunelovací mikroskopie
Úloha 3. Mikroskopie atomárních sil
Úloha 4. Rentgenová difrakční spektroskopie
Úloha 5. Měření I/V charakteristik
Úloha 6. Měření magnetické susceptibility