Tvůrčí aktivity

• PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; KOLÍBAL, M.; DUDA, R.; ŠIKOLA, T.: Zařízení SIMS TOF-LEIS; SIMS TOF-LEIS hloubkový profilometr s nanometrovým rozlišením. A2/518. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (funkční vzorek)
  http://www.physics.fme.vutbr.cz/, počet stažení: 2
  Detail

• BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T.: SARS; Sestava VUT TOF-SARS pro detekci vodíku. Laboratoř povrchů a tenkých vrstev, A2/518, Technická 2, Brno. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2014-10/. (funkční vzorek)
  http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2014-10/, počet stažení: 1
  Detail

Pokud je v údajích nesrovnalost, podívejte se do častých otázek k vizitkám.