Publikace

• 2020

  Mohelský, I.; Dubroka, A.; Wyzula, J.; Slobodeniuk, A.; Martinez, G.; Krupko, Y.; Piot, B. A.; Caha, O.; Humlíček, J.; Bauer, G.; Springholz, G.; Orlita, M. Landau level spectroscopy of Bi2Te3. Physical Review B, 2020, roč. 102, č. 8, s. 085201-1 (085201-11 s.)ISSN: 1095-3795.
  Detail | WWW

• 2018

  KRUMPOLEC, R.; HOMOLA, T.; CAMERON, D.; HUMLÍČEK, J.; CAHA, O.; KULDOVÁ, K.; ZAZPE MENDIOROZ, R.; PŘIKRYL, J.; MACÁK, J. Structural and Optical Properties of Luminescent Copper(I) Chloride Thin Films Deposited by Sequentially Pulsed Chemical Vapour Deposition. Coatings, MDPI, 2018, roč. 8, č. 10, s. 1-16. ISSN: 2079-6412.
  Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

• 2017

  KLENOVSKÝ, P.; ZŮDA, J.; KLAPETEK, P.; HUMLÍČEK, J. Ellipsometry of surface layers on a 1-kg sphere from natural silicon. Applied Surface Science, 2017, roč. 421, č. 1, s. 542-546. ISSN: 0169-4332.
  Detail

• 2016

  KLENOVSKÝ, P.; KŘÁPEK, V.; HUMLÍČEK, J. Type-II InAs/GaAsSb/ GaAs Quantum Dots as Artificial Quantum Dot Molecules. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2016, roč. 129, č. 1A, s. A62 (A65 s.)ISSN: 0587-4246.
  Detail

• 2015

  KLENOVSKÝ, P.; HEMZAL, D.; STEINDL, P.; ZIKOVÁ, M.; KŘÁPEK, V.; HUMLÍČEK, J. Polarization anisotropy of the emission from type-II quantum dots. PHYSICAL REVIEW B, 2015, roč. 92, č. 24, s. 241302-1 (241302-5 s.)ISSN: 0163-1829.
  Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

• 2009

  ŠIKOLA, T.; KEKATPURE, R.; BARNARD, E.; WHITE, J.; VAN DORPE, P.; BŘÍNEK, L.; TOMANEC, O.; ZLÁMAL, J.; LEI, D.; SONNEFRAUD, Y.; MAIER, S.; HUMLÍČEK, J.; BRONGERSMA, M. Mid-IR plasmonic antennas on silicon-rich oxinitride absorbing substrates: Nonlinear scaling of resonance wavelengths with antenna length. Applied Physics Letters, 2009, roč. 95, č. 25, s. 253109- 1 (253109-3 s.)ISSN: 0003-6951.
  Detail

• 2005

  BONAVENTUROVÁ - ZRZAVECKÁ, O.; BRANDEJSOVÁ, E.; ČECHAL, J.; POTOČEK, M.; NEBOJSA, A.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T.; HUMLÍČEK, J. UV in-situ degradation of PMPSi analysed by spectroscopic ellipsometry, XPS and TDS. 1. Vienna: 2005. s. 294-294.
  Detail

• 2004

  BRANDEJSOVÁ, E.; ČECHAL, J.; BONAVENTUROVÁ, O.; NEBOJSA, A.; TICHOPÁDEK, P.; URBÁNEK, M.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T.; HUMLÍČEK, J. In situ analysis of PMPSi thin films by spectroscopic ellipsometry. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9, s. 260 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
  Detail

*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.