Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
RNDr.
FSI, ÚFI OFPN – vědecký pracovník
nebojsa@fme.vutbr.cz
Odeslat VUT zprávu
2025
NERUDA, P.; NERUDOVA, Z.; KMOSEK, M.; PRICHYSTAL, A.; SLAVICEK, K.; VSIANSKY, D.; NEBOJSA, A.; SVETLIK, I.; GOSLAR, T.; MOSKA, P. Multidisciplinary Analysis of the Engraved Pebble From the Magdalenian Horizon of the Open-Air Site Hošťálkovice II - Hladový vrch (Czech Republic). Journal of Paleolithic Archaeology, 2025, vol. 8, iss. 1, p. 1-25.
Článek WoS
2024
ALLAHAM, M.; DALLAEV, R.; BURDA, D.; SOBOLA, D.; NEBOJSA, A.; KNÁPEK, A.; MOUSA, M.; KOLAŘÍK, V. Energy gap measurements based on enhanced absorption coefficient calculation from transmittance and reflectance raw data. Physica Scripta, 2024, vol. 99, iss. 1, p. 1-9. ISSN: 1402-4896.
2022
DREXLER, P.; NEŠPOR, D.; KADLEC, R.; KŘÍŽ, T.; NEBOJSA, A. Simulation and Characterization of Nanostructured Electromagnetic Scatterers for Information Encoding. Electronics, 2022, vol. 11, iss. 20, p. 1-12. ISSN: 2079-9292.
2021
SEDLÁK, P.; SOBOLA, D.; GAJDOŠ, A.; DALLAEV, R.; NEBOJSA, A.; KUBERSKÝ, P. Surface Analyses of PVDF/NMP/[EMIM][TFSI] Solid Polymer Electrolyte. Polymers, 2021, vol. 13, iss. 16, p. 1-16. ISSN: 2073-4360.
PAPEŽ, N.; DALLAEV, R.; KASPAR, P.; SOBOLA, D.; ŠKARVADA, P.; ŢĂLU, Ş.; RAMAZANOV, S.; NEBOJSA, A. Characterization of GaAs Solar Cells under Supercontinuum Long-Time Illumination. Materials, 2021, vol. 14, iss. 2, p. 1-13. ISSN: 1996-1944.
2020
PAPEŽ, N.; GAJDOŠ, A.; DALLAEV, R.; SOBOLA, D.; SEDLÁK, P.; MOTÚZ, R.; NEBOJSA, A.; GRMELA, L. Performance analysis of GaAs based solar cells under gamma irradiation. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2020, iss. 510, p. 265-272. ISSN: 0169-4332.
2019
SOBOLA, D.; KASPAR, P.; NEBOJSA, A.; HEMZAL, D.; GRMELA, L.; SMITH, S. Characterization of the native oxide on CdTe surfaces. MATERIALS SCIENCE-POLAND, 2019, vol. 37, iss. 2, p. 206-211. ISSN: 2083-134X.
KASPAR, P.; SOBOLA, D.; DALLAEV, R.; RAMAZANOV, S.; NEBOJSA, A.; REZAEE, S.; GRMELA, L. Characterization of Fe2O3 thin film on highly oriented pyrolytic graphite by AFM, Ellipsometry and XPS. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2019, vol. 493, iss. 1, p. 673-678. ISSN: 0169-4332.
2018
PAPEŽ, N.; SOBOLA, D.; GAJDOŠ, A.; ŠKVARENINA, Ľ.; MACKŮ, R.; ELIÁŠ, M.; NEBOJSA, A.; MOTÚZ, R. Surface morphology after reactive ion etching of silicon and gallium arsenide based solar cells. Journal of Physics: Conference Series, 2018, vol. 1124, iss. 4, p. 165-171. ISSN: 1742-6596.
Článek Scopus
2004
ČECHAL, J.; TICHOPÁDEK, P.; NEBOJSA, A.; BONAVENTUROVÁ, O.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T. In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2004, vol. 38, iss. 8, p. 1-4. ISSN: 0142-2421.
Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus
BRANDEJSOVÁ, E.; ČECHAL, J.; BONAVENTUROVÁ, O.; NEBOJSA, A.; TICHOPÁDEK, P.; URBÁNEK, M.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T.; HUMLÍČEK, J. In situ analysis of PMPSi thin films by spectroscopic ellipsometry. Jemná mechanika a optika, 2004, vol. 9, iss. 9, p. 1-3. ISSN: 0447-6441.
2002
TICHOPÁDEK, P., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., NAVRÁTIL, K., ČECHAL, J., JURKOVIČ, P., BÁBOR, P. A Study of Thin Oxide Films by Ellipsometry and AR XPS. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2002, vol. 34, iss. 1, p. 1-4. ISSN: 0142-2421.
SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., URBÁNEK, M., NAVRÁTIL, K., JIRUŠE, J., CHMELÍK, R., NEBOJSA, A. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2002, vol. 34, iss. 1, p. 1-4. ISSN: 0142-2421.
2001
TICHOPÁDEK, P., NEBOJSA, A., ČECHAL, J. Konstrukce elipsometru pro měření tenkých vrstev a povrchů. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, s. 1-4. ISSN: 0447-6441.
TICHOPÁDEK, P.; ŠIKOLA, T.; NEBOJSA, A.; ČECHAL, J. Application of Spectroscopic Ellipsometry in Ultrathin Film Analysis. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 1-5. ISBN: 80-214-1992-X.
Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus
TICHOPÁDEK, P., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., NAVRÁTIL, K., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. A Study of Thin Oxide Films by Ellipsometry and AR XPS. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. p. 360
TICHOPÁDEK, P., NEBOJSA, A., ČECHAL, J. Ellipsometry - a tool for surface and thin film analysis. In Juniormat '01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. p. 1-4.
SPOUSTA, J., URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. p. 295
2000
ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., LOPOUR, F., ZLÁMAL, J., TICHOPÁDEK, P., KRÁL, J., RAFAJA, D., RANNO, L. Deposition of Thin Films/Multilayers by IBAD. In procedings of conference Metal 2000. Ostrava: VŠB Ostrava, 2000. p. 81
URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films. In Micromat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. p. 1-6.
TENGEL, M., NEBOJSA, A. Termochemická analýza jakosti povrchu regenerovaných ostřiv. In II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI. Brno: Vutium, 2000. s. 1-4.
*) Citace se generují jednou za 24 hodin.