Publication result detail

Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů

GRMELA, L.

Original Title

Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů

English Title

Non-destructive spectroscopy testing methodes of optoelectronic devices and materials

Type

Peer-reviewed article not indexed in WoS or Scopus

Original Abstract

Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie

English abstract

Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie

Keywords

spektrální šumová hustota, transport nosičů, pohyblivost, 1/f šum, poměr sigálúšum, spolehlivost, evanescentní pole, nanometrologie, fotoproud

Key words in English

Sspectral noise density, transporrt charges, mobility, 1/f noise, signal / noise ratio, reliability, degradation, evanescent fiel, nanometrology, photocurrent

Authors

GRMELA, L.

RIV year

2013

Released

02.01.2012

ISBN

1213-418X

Periodical

Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně Edice Habilitační a inaugurační spisy

Volume

2012

Number

401

State

Czech Republic

Pages from

1

Pages to

35

Pages count

35

BibTex

@article{BUT96594,
  author="Lubomír {Grmela}",
  title="Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů",
  journal="Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně Edice Habilitační a inaugurační spisy",
  year="2012",
  volume="2012",
  number="401",
  pages="1--35",
  issn="1213-418X"
}