Publication detail

VÝZKUM VLASTNOSTÍ NELINEÁRNÍCH KAPACITORŮ V TECHNOLOGII CMOS

SUTORÝ, T.

Original Title

VÝZKUM VLASTNOSTÍ NELINEÁRNÍCH KAPACITORŮ V TECHNOLOGII CMOS

English Title

Research of capacitor properties in CMOS technology

Type

report

Language

Czech

Original Abstract

Cílem projektu je vytvoření metodiky měření integrovaných nelineárních kondenzátorů a vývoj měřícího zařízení pro testovací čip ovládaného z počítače typu PC určeného k tomuto účelu.

English abstract

The target of project is to create methodology of nonlinear capacitors characterization on chip and developing a measurement equipment controled by PC.

Key words in English

MOS capacitors characterization, measurement equipment

Authors

SUTORÝ, T.

RIV year

2005

Released

1. 1. 2005

Location

Brno

Pages from

1

Pages to

16

Pages count

16

BibTex

@techreport{BUT57557,
  author="Tomáš {Sutorý}",
  title="VÝZKUM VLASTNOSTÍ NELINEÁRNÍCH KAPACITORŮ V TECHNOLOGII CMOS",
  year="2005",
  address="Brno",
  series="1",
  pages="16"
}