Ing.

Petr Bábor

Ph.D.

FME, IPE DSSPS – Assistant professor

+420 54114 2783
babor@fme.vutbr.cz

Send BUT message

Ing. Petr Bábor, Ph.D.

Publications

  • 2021

    VANĚK, T., HÁJEK, F., DOMINEC, F., HUBÁČEK, T., KULDOVÁ, K., PANGRÁC, J., KOŠUTOVÁ, T., KEJZLAR, P., BÁBOR, P., LACHOWSKI, A., HOSPODKOVÁ, A. Luminescence redshift of thick InGaN/GaN heterostructures induced by the migration of surface adsorbed atoms. JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 2021, vol. 565, no. 1, p. 126151-126151. ISSN: 0022-0248.
    Detail | WWW

    DAGHBOUJ, N.; CALLISTI, M.; SEN, H. S.; KARLIK, M.; ČECH, J.; VRONKA, M.; HAVRÁNEK, V.; ČAPEK, J.; MINÁRIK, P.; BÁBOR, P.; POLCAR, T. Interphase boundary layer-dominated strain mechanisms in Cu+ implanted Zr-Nb nanoscale multilayers. Acta materialia, 2021, vol. 202, no. 1, p. 317-330. ISSN: 1359-6454.
    Detail | WWW

  • 2019

    GRÉZLOVÁ, V.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P.; VOJTOVÁ, L. Antibacterial polymer-phosphate bone cement targeted on the osteomyelitis treatment. Czech Chemical Society Symposium Series 17 (1) XIX. Interdisciplinary Meeting of Young Biologists, Biochemists and Chemists. Czech chemical society symposium series. Praha: Czech Chemical Society, 2019. p. 11-11. ISSN: 2336-7202.
    Detail | WWW

    HOLEŇÁK, R.; SPUSTA, T.; POTOČEK, M.; SALAMON, D.; ŠIKOLA, T.; BÁBOR, P. 3D localization of spinel (MgAl2O4) and sodium contamination in alumina by TOF-SIMS. MATERIALS CHARACTERIZATION, 2019, vol. 148, no. 1, p. 252-258. ISSN: 1044-5803.
    Detail | WWW

    GRÉZLOVÁ, V.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P.; VOJTOVÁ, L. Antibacterial Selenium Nanoparticles and their Effect on Properties of Polymer-Phosphate Bone Cement. eCM Periodical. eCM Periodical, 2019. p. 26-26. ISSN: 2522-235X.
    Detail | WWW

  • 2018

    ŠIK, O.; BÁBOR, P.; POLČÁK, J.; BELAS, E.; MORAVEC, P.; GRMELA, L.; STANĚK, J. Low Energy Ion Scattering as a depth profiling tool for thin layers - Case of bromine Methanol etched CdTe. Vacuum, 2018, no. 152, p. 138-144. ISSN: 0042-207X.
    Detail | WWW

    GRÉZLOVÁ, V.; VOJTOVÁ, L.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P. Thixotropic polymer-phosphate bone filler modified with antibacterial selenium nanoparticles. Biomateriály a jejich povrchy XI. Praha: České vysoké učení technické v Praze, 2018. p. 75-76. ISBN: 978-80-01-06471-9.
    Detail

    GRÉZLOVÁ, V.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P.; POLÁČEK, P.; VOJTOVÁ, L. The Effect Of Antibacterial Selenium Nanoparticles On The Properties Of Polymer-Phosphate Bone Fillers. 7th Meeting on Chemistry and Life 2018. Book of abstracts. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta chemická, Purkyňova 464/118, 612 00 Brno, 2018. p. 136-136. ISBN: 978-80-214-5488-0.
    Detail

    BÁBOR, P. Komparativní analýza vrstevnatých struktur metodou SIMS. 2018. p. 1 (1 s.).
    Detail

  • 2017

    JIANG, L.; XIAO, N.; WANG, B.; GRUSTAN-GUTIERREZ, E.; JING, X.; BÁBOR, P.; KOLÍBAL, M.; LU, G.; WU, T.; WANG, H.; HUI, F.; SHI, Y.; SONG, B.; XIE, X.; LANZA, M. High- resolution characterization of hexagonal boron nitride coatings exposed to aqueous and air oxidative environments. Nano Research, 2017, vol. 10, no. 6, p. 2046-2055. ISSN: 1998-0000.
    Detail

  • 2016

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T. Příprava vzorků pro testování rozlišení. Brno: 2016. p. 1-14.
    Detail

    ŠIK, O.; BÁBOR, P.; ŠKARVADA, P.; POTOČEK, M.; TRČKA, T.; GRMELA, L.; BELAS, E. Investigation of the effect of argon ion beam on CdZnTe single crystals surface structural properties. Surface and Coatings Technology, 2016, vol. 306, no. A, p. 75-81. ISSN: 0257-8972.
    Detail | WWW

  • 2015

    PRŮŠA, S.; PROCHÁZKA, P.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.; TER VEEN, R.; FARTMANN, M.; GREHL, T.; BRÜNER, P.; ROTH, D.; BAUER, P.; BRONGERSMA, H. Highly Sensitive Detection of Surface and Intercalated Impurities in Graphene by LEIS. Langmuir, 2015, vol. 31, no. 35, p. 9628-9635. ISSN: 0743-7463.
    Detail

    BÁBOR, P.; DUDA, R.; POLČÁK, J.; PRŮŠA, S.; POTOČEK, M.; VARGA, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Real-time observation of self-limiting SiO2/Si decomposition catalysed by gold silicide droplets. RSC Advances, 2015, vol. 5, no. 123, p. 101726-101731. ISSN: 2046-2069.
    Detail

  • 2014

    STEVIE, F.; SEDLÁČEK, L.; BÁBOR, P.; JIRUŠE, J.; PRINCIPE, E.; KLOSOVÁ, K. FIB-SIMS quantification using TOF- SIMS with Ar and Xe plasma sources. Surface and Interface Analysis, 2014, vol. 46, no. S1, p. 285-287. ISSN: 0142- 2421.
    Detail

  • 2013

    BER, B.; BÁBOR, P.; BRUNKOV, P.; CHAPON, P.; DROZDOV, M.; DUDA, R.; KAZANTSEV, D.; POLKOVNIKOV, V.; YUNIN, P.; TOLSTOGOUZOV, A. Sputter depth profiling of Mo/B4C/Si and Mo/Si multilayer nanostructures: A round- robin characterization by different techniques. Thin Solid Films, 2013, vol. 540, no. 1, p. 96-105. ISSN: 0040- 6090.
    Detail

  • 2011

    BÁBOR, P.; MAŠEK, K. Metody povrchové a tenkovrstvové analýzy prvkového složení (XPS, AES, SIMS), dirfrakce elektronů. Materials Structure, 2011, vol. 2011, no. 18, p. 251-257. ISSN: 1211- 5894.
    Detail

    BÁBOR, P.; LYSÁČEK, D.; ŠIK, J. Polycrystalline Silicon Layers with Enhanced Thermal Stability. Solid State Phenomena, 2011, vol. 178- 179, no. 385, p. 385-391. ISSN: 1662- 9779.
    Detail

    BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF- LEIS profiling. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2011, vol. 269, no. 3, p. 369-373. ISSN: 0168- 583X.
    Detail

  • 2010

    URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; BÁBOR, P.; KOLÍBALOVÁ, E.; HRNČÍŘ, T.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Focused ion beam fabrication of spintronic nanostructures: an optimization of the milling process. NANOTECHNOLOGY, 2010, vol. 21, no. 14, p. 145304- 1 (145304-7 p.)ISSN: 0957-4484.
    Detail

    POLČÁK, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; URBÁNEK, M.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T. Angle-resolved XPS depth profiling of modeled structures: testing and improvement of the method. Surface and Interface Analysis, 2010, vol. 42, no. 5- 6, p. 649-652. ISSN: 0142- 2421.
    Detail

    MATLOCHA, T.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation. Surface Science, 2010, vol. 604, no. 21- 22, p. 1906-1911. ISSN: 0039- 6028.
    Detail

    ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Formation of copper islands on a native SiO2 surface at elevated temperatures. Applied Surface Science, 2010, vol. 256, no. 11, p. 3636-3641. ISSN: 0169- 4332.
    Detail

  • 2009

    POTOČEK, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Využití termální desorpční spektroskopie při studiu povrchové kontaminace. Jemná mechanika a optika, 2009, vol. 54, no. 7- 8, p. 217-218. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NEUMAN, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Mechanika iontů jako prostředek k analýze nanosvěta. Jemná mechanika a optika, 2009, vol. 54, no. 7- 8, p. 209-214. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    POLČÁK, J.; BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Manipulátor vzorku pro rentgenovou fotoelekronovou spektroskopii do velmi vysokého vakua. Jemná mechanika a optika, 2009, vol. 54, no. 7- 8, p. 215-216. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    MAŠEK, K.; VÁCLAVŮ, M.; BÁBOR, P.; MATOLÍN, V. Sn-CeO2 thin films prepared by rf magnetron sputtering: XPS and SIMS study. Applied Surface Science, 2009, vol. 255, no. 13- 14, p. 6656-6660. ISSN: 0169- 4332.
    Detail

  • 2007

    ČECHAL, J.; MACH, J.; VOBORNÝ, S.; KOSTELNÍK, P.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A study of Ga layers on Si(100)-(2x1) by SR-PES: influence of adsorbed water. Surface Science, 2007, vol. 601, no. 9, p. 2047-2053. ISSN: 0039- 6028.
    Detail

    PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF- LEIS. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2007, vol. 111, no. 3, p. 335-341. ISSN: 0587- 4246.
    Detail

  • 2006

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; TOMANEC, O.; KOSTELNÍK, P.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. In situ Analysis of Ga-ultra Thin Films by ToF- LEIS. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2006, vol. 249, no. 1- 2, p. 318-321. ISSN: 0168- 583X.
    Detail

  • 2005

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; TOMANEC, O.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. In situ Analysis of Ga-ultra Thin Films by TOF- LEIS. 1. Seville: 2005.
    Detail

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Manchester: 2005. p. 178-178.
    Detail

    ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A Study of Gallium Growth on Si(111) 7x7 by SRPES. 1. Vienna: 2005. p. 259-259.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; TOMANEC, O.; POTOČEK, M.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. Application of ToF LEIS for Monitoring the growth and thermal treatment of Ga ultrathin films. 1. Vienna: 2005. p. 191-191.
    Detail

    VOBORNÝ, S.; MACH, J.; POTOČEK, M.; KOSTELNÍK, P.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of GaN Ultrathin Films grown by Direct Ion Beam Deposition. 1. Vienna: 2005. p. 117-117.
    Detail

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Seville: 2005.
    Detail

  • 2004

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. ToF-LEIS Analysis of ultra thin films: Ga and Ga-N layer growth on Si(111). Surface Science, 2004, vol. 566- 568, no. 9, p. 885 ( p.)ISSN: 0039- 6028.
    Detail

    VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; MACH, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; PRŮŠA, S.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Deposition and in-situ charakterization of ultra- thin films. Thin Solid Films, 2004, vol. 459, no. 1- 2, p. 17 ( p.)ISSN: 0040- 6090.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. Jemná mechanika a optika, 2004, vol. 9, no. 9, p. 262 ( p.)ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    VOBORNÝ, S.; MACH, J.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; TOMANEC, O.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Application of Complex UHV Apparaturus in a Study of Low-tepmerature Gallium- nitride Ultrathin Film Growth. Jemná mechanika a optika, 2004, vol. 9, no. 9, p. 265 ( p.)ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BARTOŠÍK, M., TOMANEC, O., ŠIKOLA, T. Growth of gallium on sillicon: A TOF- LEIS and AFM study. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. p. 230 ( p.)ISBN: 80-7355-024- 5.
    Detail

    VOBORNÝ, S., MACH, J., KOLÍBAL, M., ČECHAL, J., BÁBOR, P., POTOČEK, M., ŠIKOLA, T. A study of Early Periods of GaN Ultrathin Film Growth. In New Trends in Pysics. Brno: VUT v Brně, 2004. p. 270 ( p.)ISBN: 80-7355-024- 5.
    Detail

  • 2003

    BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Zobrazení iontovým svazkem a 2D SIMS. Jemná mechanika a optika, 2003, vol. 48, no. 6, p. 178 ( p.)ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    VOBORNÝ, S., KOLÍBAL, M., MACH, J., ČECHAL, J., BÁBOR, P., PRŮŠA, S., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T. Deposition and in situ characterization of ultra- thin films. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. p. 45 ( p.)
    Detail

    PRŮŠA, S., KOLÍBAL, M., BÁBOR, P., MACH, J., JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF LEIS. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. p. 133 ( p.)
    Detail

    KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BAUER, P., ŠIKOLA, T. TOF-LEIS analysis of ultra thin films: Ga- and Ga-N layer growth on Si (111). In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003. p. 0 ( p.)
    Detail

    BÁBOR, P., KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T. Application of a simple imaging system in SIMS and TOF LEIS. In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003. p. 0 ( p.)
    Detail

    BÁBOR, P. Hloubkové profilování a 2D SIMS – současný stav. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003. p. 23 ( p.)
    Detail

  • 2002

    TICHOPÁDEK, P., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., NAVRÁTIL, K., ČECHAL, J., JURKOVIČ, P., BÁBOR, P. A Study of Thin Oxide Films by Ellipsometry and AR XPS. Surface and Interface Analysis, 2002, vol. 34, no. 1, p. 531 ( p.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

    ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., BÁBOR, P., BUŠ, V., ŠKODA, D., DUARTE, J. Application of SPM in surface studies and nanotechnology. 2002, vol. 47, no. 6- 7, p. 210 ( p.)ISSN: 0447- 6411.
    Detail

  • 2001

    JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P., ČECHAL, J. Studium ultratenkých vrstevnatých struktur. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 364 ( p.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P. Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. p. 86 ( p.)
    Detail

    VOBORNÝ, S., ŠIKOLA, T., PRŮŠA, S., ZLÁMAL, J., BÁBOR, P. Diagnostics and optimization of ion source parameters. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 304 ( p.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P. Application of ToF - LEIS for Analysis of Surfaces and Ultra Thin Films. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 404 ( p.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    BÁBOR, P. Analýza povrchů a tenkých vrstev metodu SIMS. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. p. 131 ( p.)
    Detail

    PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. Application of TOF - LEIS and XPS for Surface Studies. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. p. 486 ( p.)ISBN: 80-214-1892- 3.
    Detail

    VOBORNÝ, S., ZLÁMAL, J., BÁBOR, P. Deposition of Ultrathin Films - Optimalisation of Ion Beam Optics. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. p. 281 ( p.)
    Detail

    BÁBOR, P. Analýza povrchů tenkých vrstev metodou SIMS. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. p. 131 ( p.)
    Detail

  • 2000

    LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., BÁBOR, P., DUARTE, J., MATĚJKA, F. Etching of Microstructures and Modification of Solid Surfaces by Low Energy Ion Beams. In MicroMat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. p. 919 ( p.)
    Detail

    BÁBOR, P. In-situ monitorování povrchu pevných látek bombardovaných iontovým svazkem – návrh energiového filtru pro aplikaci v SIMS. In II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI. Brno: Vutium, 2000. p. 13 ( p.)
    Detail

*) Publications are generated once a 24 hours.