prof. Ing.

Miroslav Kolíbal

Ph.D.

FME, IPE DPSN – Professor

+420 54114 2708
kolibal.m@fme.vutbr.cz

Send BUT message

prof. Ing. Miroslav Kolíbal, Ph.D.

Applied results

  • 2025

    KOLÍBAL, M.; JURÍČEK, A.; ŠKODA, D.; BŘEZINA, J.: Ověřená technologie přípravy antireflexní vrstvy pro vlnovou délku 532 a 1030 nebo 1064 nm. URL: https://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2025-ovena-technologie-pipravy-antireflexni-vrstvy-pro-vlnovou-delku-532-a-1030-nebo-1064-nm/. (Ověřená technologie)

    Verified technology

    Detail

    KOLÍBAL, M.; JURÍČEK, A.; ŠKODA, D.; BŘEZINA, J.: Funkční vzorek AR vrstvy pro 532 nm s R < 0,5 % na vrstvu. URL: https://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2025-funkcni-vzorek-ar-vrstvy-pro-532-nm-s-r-05-na-vrstvu/. (Funkční vzorek)

    Functioning sample

    Detail

    KOLÍBAL, M.; JURÍČEK, A.; ŠKODA, D.; BŘEZINA, J.: Funkční vzorek AR vrstvy pro 1030 (1064) nm s R < 0,5 % na vrstvu. URL: https://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2025-funkcni-vzorek-ar-vrstvy-pro-1030-1064-nm-s-r-05-na-vrstvu/. (Funkční vzorek)

    Functioning sample

    Detail

    OČKOVIČ, A.; MÜLLEROVÁ, I.; WANDROL, P.; KOLÍBAL, M.: Utilization of secondary electron contrast for dopant analysis. URL: https://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2025-verified-technology-/. (Ověřená technologie)

    Verified technology

    Detail

  • 2024

    KOLÍBAL, M.; MIRDAMADI, H.; ŠKODA, D.; BŘEZINA, J.: Ověřená technologie přípravy antireflexní vrstvy pro vlnovou délku 266 nm. URL: https://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2025-ovena-technologie-pipravy-antireflexni-vrstvy-pro-vlnovou-delku-266-nm-/. (Ověřená technologie)

    Verified technology

    Detail

    KOLÍBAL, M.; MIRDAMADI, H.; ŠKODA, D.; BŘEZINA, J.: Funkční vzorek AR vrstvy pro 266 nm s R < 0,5 % na vrstvu. URL: https://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2025-funkcni-vzorek-ar-vrstvy-pro-266-nm-s-r-05-na-vrstvu/. (Funkční vzorek)

    Functioning sample

    Detail

  • 2023

    KOLÍBAL, M.; MUSÁLEK, T.; ELIÁŠ, M.: Prekurzorový vstup do reaktoru. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/custom-cvd-showerhead?stage=Stage. (Funkční vzorek)

    Functioning sample

    Detail

    KOLÍBAL, M.; MUSÁLEK, T.; BUKVIŠOVÁ, K.; NOVÁK, L.: In-situ SEM reactor for synthesis of battery materials. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2023-in-situ-sem-reactor-for-synthesis-of-battery-materials/. (Funkční vzorek)

    Functioning sample

    Detail

  • 2022

    KOLÍBAL, M.; URBÁNEK, M.; VYSTAVĚL, T.; BUKVIŠOVÁ, K.: Nanoscale calibration sample for magnetic contrast imaging in SEM. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2022-calibration-set-for-magnetic-contrast-measurmeents-with-different-domain-sizes/. (Funkční vzorek)

    Functioning sample

    Detail

  • 2021

    KOLÍBAL, M.; URBÁNEK, M.; DHANKHAR, M.; VYSTAVĚL, T.: Calibration sample for magnetic contrast in SEM. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/calibration-sample-for-magnetic-contrast-imaging-in-sem/. (Funkční vzorek)

    Functioning sample

    Detail

  • 2019

    KOLÍBAL, M.; DHANKHAR, M.; BUKVIŠOVÁ, K.; NOVÁK, L.: Verified technology for utilization of atomic hydrogen source in SEM. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/technology-for-observation-of-redox-reactions-in-sem/. (Ověřená technologie)

    Verified technology

    Detail

    VOBORNÝ, S.; MÜNZ, F.; KOLÍBAL, M.: Metal-nitridová vrstva s plazmonickou optickou strukturou. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2019-gan/. (Funkční vzorek)

    Functioning sample

    Detail

    MACH, J.; KOLÍBAL, M.: Ovládací jednotka pro zdroj atomárního vodíku. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2019-athunit/. (Funkční vzorek)

    Functioning sample

    Detail

  • 2018

    MACH, J.; KOLÍBAL, M.; MUSÁLEK, T.: Funkční vzorek zdroje atomárního vodíku pro SEM. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2018-01/. (Funkční vzorek)

    Functioning sample

    Detail

  • 2008

    KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T.: Iontově-optický systém pro ToF-LEIS spektrometr. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (Funkční vzorek)

    Functioning sample

    Detail

    PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; KOLÍBAL, M.; DUDA, R.; ŠIKOLA, T.: SIMS TOF-LEIS hloubkový profilometr s nanometrovým rozlišením. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (Funkční vzorek)

    Functioning sample

    Detail

*) Citations are generated once every 24 hours.